鍍層光譜儀(鍍層熒光光譜儀)儀器硬件部分主要配置
1、SDD電制冷探測器:（新型探測器）
1.1. SDD電制冷探測器；分辨率：129±5e電子伏特
1.2. 放大電路模塊:對樣品特征X射線進行探測；把探測采集的信息,進一步放大。
2 X射線激發(fā)裝置(薄鈹窗光管）:
2.1. 燈絲電流最大輸出：1mA；
3 高壓發(fā)射裝置:
3.1. 電壓最大輸出： 50kV；
3.2. 最小5kv可控調(diào)節(jié)
3.3. 自帶電壓過載保護
4 一體化真空系統(tǒng)
4.1 具有低震動、低噪音、自保護及抽速快等優(yōu)良性能的真空泵系統(tǒng)；
4.2 幾何抽速：60 L/min(50Hz)
4.3 極限壓力：6.7×10-2 Pa
5 多道分析器:
5.1. 將采集的模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號,并將處理結(jié)果提供給上位機軟件；
5.2 最大道數(shù)： 4096；
5.3 包含信號增強處理功能；
6 5光路過濾模塊
6.1 降低X射線光路發(fā)送過程中的干擾，保證探測器接收信號準確；
6.2 將準直器與濾光處整合；
7 準直器自動切換模塊
7.1 多達5種選擇
8 濾光片自動切換模塊
8.1五種濾光片的自由選擇和切換。
9準直器和濾光片的自由組合模塊
9.1 多達幾十種的準直器和濾光片的自由組合。
10工作曲線自動選擇模塊
10.1 自動選擇工作曲線，摒棄手動選擇，避免人為操作失誤，將自動化和智能化演繹得更好，使操作更人性，更方便。
鍍層熒光光譜儀專用軟件
1.1有害元素檢測軟件
專門針對RoHS(含鹵素元素)檢測而開發(fā)(含真空控制功能)，對采集的光譜信號進行數(shù)據(jù)處理、計算并報告顯示測量結(jié)果。
1.2功能介紹
※專門應(yīng)對歐盟RoHS指令中六種物質(zhì)涉及的五種元素 Cd, Pb, Hg, Br, Cr和鹵素元素Cl測試，測量時間為60-300秒(可調(diào))
※操作界面簡潔直觀，使用方便，無需專業(yè)人士操作
2元素分析檢測軟件
2.1 元素分析范圍：從鈉(Na)到鈾(U)；
2.2 一次可同時分析24個元素；
2.3 分析檢出限可達1PPM；
2.4 含量分析范圍一般為1ppm—99.9%；
2.5 軟件自帶多種圖像處理和分析計算方法；
2.6 多次測量重復(fù)性可達0.1%；
2.7 長期工作穩(wěn)定性為0.1%；
2.8 能量分辨率為129±5eV；
2.9 軟件自帶多種圖像處理和計算方法；
2.10 應(yīng)用領(lǐng)域：合金(如不銹鋼、銅合金、鋁合金等合金)所含元素含量分析(如Cu、Zn、Pb、Sn、Fe、Ni、Mn、Sb、Al、Si、Cr、Mo、Co、Ti、V等元素)；
3 鍍層厚度測試軟件
3.1 元素分析范圍：從鈉(Na)到鈾(U)；
3.2 一次可同時分析3層以上鍍層；
3.3 分析檢出限可達0.01μm；
3.4 分析厚度一般為0.1μm到50μm之間；
3.5 多次測量重復(fù)性可達0.1μm(對于小于1μm的最外層鍍層)；
3.6 長期工作穩(wěn)定性為0.1μm(對于小于1μm的最外層鍍層)；
3.7 配置小孔準直器，測試光斑在0.2mm以內(nèi)；
3.8 探測器能量分辨率為129±5eV；
3.9 應(yīng)用領(lǐng)域:金屬電鍍層厚度的測量,如Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu等；
※可自動選擇適合的校準曲線，測量更方便，更準確
※中英文界面自動切換，并具有第三方語言訂制功能
※自動校準儀器
※自帶樣品材質(zhì)定性分析，防止手動用戶選擇錯誤曲線
※多種報告形式打印
※可同時顯示多個光譜圖
※儀器測試參數(shù)及真空度實時顯示，所有掌控一目了然
※新型的機芯溫度監(jiān)控技術(shù)，保證X射線源的安全可靠運行，有效延長其使用壽命，降低使用成本。
產(chǎn)品簡介
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